精准定位：在光子芯片中精确定位量子点

美国国家标准与技术研究院（NIST）的研究人员和他们的同事成功开发出了用于光学显微镜的标准和校准方法，使得量子点能够在纳米级别（约相当于一张纸的千分之一厚度）内与光子组件的中心对齐。这项突破性的进展对于采用量子点辐射来存储和传输量子信息的芯片规模设备至关重要。

通过建立与国际单位制（SI）相一致的可追溯标准，研究团队成功实现了对整个光学显微镜图像的高精度定位，从而能够纠正许多个体量子点的位置。研究人员预测，如果显微镜使用新标准进行校准，那么高性能设备的数量可能会增加数十倍。

该方法的成功开发将使量子信息技术更可靠地从研究实验室走向商业产品，并且为其他应用光学显微镜的领域提供了更准确、可靠的标准和校准方法。